|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 42 gevonden artikelen
| Titel: |
Diffraction Contrast of Threading Dislocations in GaN and 4H-SiC Epitaxial Layers Using Electron Channeling Contrast Imaging |
| Auteur: |
Twigg, M. E. Picard, Y. N. Caldwell, J. D. Eddy, C. R. Mastro, M. A. Holm, R. T. Neudeck, P. G. Trunek, A. J. Powell, J. A. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 39 (2010) nr. 6 pagina's 743-746 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 42 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |