|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
The Phenomenology of Ion Implantation-Induced Blistering and Thin-Layer Splitting in Compound Semiconductors |
| Auteur: |
Singh, R. Christiansen, S. H. Moutanabbir, O. Gösele, U. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 39 (2010) nr. 10 pagina's 2177-2189 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |