|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 41 gevonden artikelen
| Titel: |
Epitaxial SiC Growth Morphology and Extended Defects Investigated by Electron Backscatter Diffraction and Electron Channeling Contrast Imaging |
| Auteur: |
Picard, Yoosuf N. Twigg, Mark E. Caldwell, Joshua D. Eddy, Charles R. Neudeck, Philip G. Trunek, Andrew J. Anthony Powell, J. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 37 (2007) nr. 5 pagina's 691-698 |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 41 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |