|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 61 gevonden artikelen
| Titel: |
Accurate measurement of composition, carrier concentration, and photoconductive lifetime in Hg1−xCdxTe grown by molecular beam epitaxy |
| Auteur: |
Swartz, C. H. Chandril, S. Tompkins, R. P. Giles, N. C. Myers, T. H. Edwall, D. D. Piquette, E. C. Kim, C. S. Vurgaftman, I. Meyer, J. R. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 35 (2006) nr. 6 pagina's 1360-1368 |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 61 gevonden artikelen
| volgende >> |