|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
A transmission electron microscopy study of microstructure evolution with increasing anneal temperature in Ti/Al ohmic contacts to n-GaN |
| Auteur: |
Bright, A. N. Tricker, D. M. Humphreys, C. J. Davies, R. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 30 (2001) nr. 3 pagina's L13-L16 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |