|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
In-situ monitoring of the growth of Bi2 Te2 and Sb2 Te3 films and Bi2 Te3-Sb2 Te3 superlattice using spectroscopic ellipsometry |
| Auteur: |
Cui, Hao Bhat, Ishwara O'Quinn, Brooks Venkatasubramanian, Rama |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 30 (2001) nr. 11 pagina's 1376-1381 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |