|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 50 gevonden artikelen
| Titel: |
In-situ evaluation of the anodic oxide growth on Hg1−xCdxTe (MCT) using ellipsometry and second harmonic generation |
| Auteur: |
Wark, A. W. Berlouis, L. E. A. Cruickshank, F. K. Pugh, D. Brevet, P. F. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 29 (2000) nr. 6 pagina's 648-653 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 50 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |