|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Proximal probe characterization of nanoscale charge transport properties in Co/SiO2 multilayer structures |
| Auteur: |
Schaadt, D. M. Yu, E. T. Sankar, S. Berkowitz, A. E. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 29 (2000) nr. 11 pagina's 1299-1303 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |