|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical characterization of self-assembled In0.5Ga0.5As/GaAs quantum dots by deep level transient spectroscopy |
| Auteur: |
Fang, Z-Q. Xie, Q. H. Look, D. C. Ehret, J. Van Nostrand, J. E. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 28 () nr. 8 pagina's L13-L16 |
| Jaar: |
1999-04-02 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |