|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Optical constants of Bi2Te3 and Sb2Te3 measured using spectroscopic ellipsometry |
| Auteur: |
Cui, Hao Bhat, I. B. Venkatasubramanian, R. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 28 (1999) nr. 10 pagina's 1111-1114 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |