|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Evaluation of encapsulation and passivation of InGaAs/InP DHBT devices for long-term reliability |
| Auteur: |
Kopf, R. F. Hamm, R. A. Ryan, R. W. Burm, J. Tate, A. Chen, Y. -K. Georgiou, G. Lang, D. V. Ren, F. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 27 (1998) nr. 8 pagina's 954-960 |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |