|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of epilayer characteristics and processing conditions on the thermally oxidized SiO2/SiC interface |
| Auteur: |
Das, M. K. Cooper, J. A. Melloch, M. R. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 27 (1998) nr. 4 pagina's 353-357 |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |