|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 52 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of the effects of polishing and etching on the quality of Cd1−xZnxTe using spatial mapping techniques |
| Auteur: |
Yoon, H. Scyoc, J. M. Van Goorsky, M. S. Hermon, H. Schieber, M. Lund, J. C. James, R. B. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 26 (1997) nr. 6 pagina's 529-533 |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 52 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |