|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 42 gevonden artikelen
| Titel: |
Correlation of biaxial strains, bound exciton energies, and defect microstructures in gan films grown on AlN/6H-SiC(0001) substrates |
| Auteur: |
Perry, William G. Zheleva, T. Bremser, M. D. Davis, R. F. Shan, W. Song, J. J. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 26 (1997) nr. 3 pagina's 224-231 |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 42 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |