|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 42 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of reactive ion etching-induced damage to n-GaN surfaces using schottky diodes |
| Auteur: |
Ping, A. T. Schmitz, A. C. Adesida, I. Khan, M. Asif Chen, Q. Yang, J. W. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 26 (1997) nr. 3 pagina's 266-271 |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 42 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |