|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Accurate determination of the band-offset of a quantum semiconductor structure from its capacitance-voltage profile: Application to an InP/Ga0.47In0.53As/InP single quantum well |
| Auteur: |
Guillot, C. Dugay, M. Barbarin, F. Soulière, V. Abraham, P. Monteil, Y. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 26 () nr. 2 pagina's L6-L8 |
| Jaar: |
1997-06-14 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 20 gevonden artikelen
| volgende >> |