|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray diffraction and high resolution transmission electron microscopy of 3C-SiC/AlN/6H-SiC(0001) |
| Auteur: |
Edgar, J. H. Yu, Z. J. Smith, David J. Chaudhuri, J. Cheng, X. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic materials |
| Paginering: | Jaargang 26 (1997) nr. 12 pagina's 1389-1393 |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 13 gevonden artikelen
| << vorige |