|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 92 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of TiH x and TiD0.9 surfaces: AES, ELS, SIMS and XPS studies |
| Auteur: |
Lamartine, B.C. Haas, T.W. Solomon, J.S. |
| Verschenen in: |
Applications of surface science |
| Paginering: | Jaargang 4 (1980) nr. 3-4 pagina's 19 p. |
| Jaar: |
1980 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 92 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |