|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Application of low damage SIMS/AES/XPS of the Ba-O-W system to cathode characterization |
| Auteur: |
Lamartine, B.C. Czarnecki, J.v. Haas, T.W. |
| Verschenen in: |
Applications of surface science |
| Paginering: | Jaargang 16 (1983) nr. 1-2 pagina's 13 p. |
| Jaar: |
1983 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |