|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Near surface analysis of ion implanted dopants in gallium arsenide using RBS, PIXE, and TEM |
| Auteur: |
Pronko, P.P. Rai, A.K. Bhattacharya, R.S. |
| Verschenen in: |
Applications of surface science |
| Paginering: | Jaargang 15 (1983) nr. 1-4 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
1983 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |
Toegankelijkheidsverklaring