|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 117 van 123 gevonden artikelen
| Titel: |
Trapping properties of the silicon-silicon dioxide interface from electrochemical current-voltage behaviour |
| Auteur: |
Wolkenberg, Andrzej |
| Verschenen in: |
Applications of surface science |
| Paginering: | Jaargang 2 (1979) nr. 4 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
1979 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 117 van 123 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |