|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 119 gevonden artikelen
| Titel: |
An XPS investigation of alumina thin films utilized in inelastic electron tunneling spectroscopy |
| Auteur: |
Evans, H.E. Bowser, W.M. Weinberg, W.H. |
| Verschenen in: |
Applications of surface science |
| Paginering: | Jaargang 5 (1980) nr. 3 pagina's 17 p. |
| Jaar: |
1980 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 119 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |