|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 77 van 91 gevonden artikelen
| Titel: |
TEM and atom probe analysis of metal/GaAs interface |
| Auteur: |
Hu, Qui-Hong Kvist, Anders Andrén, Hans-Olof |
| Verschenen in: |
Micron and microscopica acta |
| Paginering: | Jaargang 22 (1991) nr. 1-2 pagina's 2 p. |
| Jaar: |
1991 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 77 van 91 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |