|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 35 van 42 gevonden artikelen
| Titel: |
TEM study of silicon on insulator structures obtained by oxygen ion implantation |
| Auteur: |
De Veirman, A. Yallup, K. Van Landuyt, J. Maes, H.E. Amelinckx, S. |
| Verschenen in: |
Micron and microscopica acta |
| Paginering: | Jaargang 18 (1987) nr. 3 pagina's 2 p. |
| Jaar: |
1987 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 35 van 42 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |