|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 29 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
STEM-EDS X-ray microanalysis of grain boundary segregations: The influence of electron probe size and grain boundary orientation |
| Auteur: |
Doig, P. Flewitt, P.E.J. |
| Verschenen in: |
Micron and microscopica acta |
| Paginering: | Jaargang 14 (1983) nr. 3 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1983 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Pergamon Press Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 29 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |