|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
A high resolution, field emission scanning electron microscope—the Hitachi Perkin Elmer HFS-2 |
| Auteur: | |
| Verschenen in: |
Micron |
| Paginering: | Jaargang 4 (1972) nr. 3 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
1972 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 13 gevonden artikelen
| volgende >> |