|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
A new method for the determination of the thickness, the optical constants and the relaxation time of weakly absorbing semiconducting thin films |
| Auteur: |
Kushev, D.B. Zheleva, N.N. Demakopoulou, Y. Siapkas, D. |
| Verschenen in: |
Infrared physics |
| Paginering: | Jaargang 26 (1986) nr. 6 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
1986 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |