Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 20 van 23 gevonden artikelen
 
 
  Reliability of dissimilarity measures for multi-voxel pattern analysis
 
 
Titel: Reliability of dissimilarity measures for multi-voxel pattern analysis
Auteur: Walther, Alexander
Nili, Hamed
Ejaz, Naveed
Alink, Arjen
Kriegeskorte, Nikolaus
Diedrichsen, Jörn
Verschenen in: NeuroImage
Paginering: Jaargang 137 (2016) nr. C pagina's 188-200
Jaar: 2016
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 20 van 23 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland