|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 57 van 75 gevonden artikelen
| Titel: |
Physically constrained two-stage residual network for defect sizing using capacitive imaging technique |
| Auteur: |
Fan, Guojun Yin, Xiaokang Zhao, Mingrui Mwelango, Martin Shi, Jihao Hutchins, David Yuan, Xin’an Li, Wei |
| Verschenen in: |
Mechanical systems and signal processing |
| Paginering: | Jaargang 236 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 57 van 75 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |