|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 48 gevonden artikelen
| Titel: |
High performance raster scanning of atomic force microscopy using Model-free Repetitive Control |
| Auteur: |
Li, Linlin Fleming, Andrew J. Yong, Yuen K. Aphale, Sumeet S. Zhu, LiMin |
| Verschenen in: |
Mechanical systems and signal processing |
| Paginering: | Jaargang 173 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 48 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |