|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Depth profiling of catalyst samples: An XPS-based model for the sputtering behavior of powder materials |
| Auteur: |
González-Elipe, Agustin R. Espinós, Juan P. Fernandez, Asunción Munuera, Guillermo |
| Verschenen in: |
Journal of catalysis |
| Paginering: | Jaargang 130 (1991) nr. 2 pagina's 15 p. |
| Jaar: |
1991 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |