|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Simulated fault injection methodology for gate-level quantum circuit reliability assessment |
| Auteur: |
Udrescu, Mihai Prodan, Lucian Vlăduţiu, Mircea |
| Verschenen in: |
Simulation Modelling Practice & Theory |
| Paginering: | Jaargang 23 (2012) nr. C pagina's 11 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 7 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |