|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Analytical prediction for depth of subsurface damage in silicon wafer due to self-rotating grinding process |
| Auteur: |
Zhang, Lixiang Chen, Pei An, Tong Dai, Yanwei Qin, Fei |
| Verschenen in: |
Current applied physics |
| Paginering: | Jaargang 19 (2019) nr. 5 pagina's 570-581 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Korean Physical Society |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 13 gevonden artikelen
| volgende >> |