|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of current drift on p-channel pH-Sensitive SiNW ISFET by capacitance measurement |
| Auteur: |
Kim, Sihyun Kwon, Dae Woong Kim, Sangwan Lee, Ryoongbin Kim, Tae-Hyeon Mo, Hyun-Sun Kim, Dae Hwan Park, Byung-Gook |
| Verschenen in: |
Current applied physics |
| Paginering: | Jaargang 18 (2018) nr. S pagina's S68-S74 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 13 gevonden artikelen
| volgende >> |