|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of wafer-scale MoS2 and WSe2 2D films by spectroscopic ellipsometry |
| Auteur: |
Diware, Mangesh S. Park, Kyunam Mun, Jihun Park, Han Gyeol Chegal, Won Cho, Yong Jai Cho, Hyun Mo Park, Jusang Kim, Hyungjun Kang, Sang-Woo Kim, Young Dong |
| Verschenen in: |
Current applied physics |
| Paginering: | Jaargang 17 (2017) nr. 10 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |