|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Threshold voltage variation-immune FinFET design with metal-interlayer-semiconductor source/drain structure |
| Auteur: |
Shin, Changho Kim, Jeong-Kyu Shin, Changhwan Kim, Jong-Kook Yu, Hyun-Yong |
| Verschenen in: |
Current applied physics |
| Paginering: | Jaargang 16 (2016) nr. 6 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |