|
Spectroscopic ellipsometry investigation on the excimer laser annealed indium thin oxide sol–gel films |
|
|
|
Titel: |
Spectroscopic ellipsometry investigation on the excimer laser annealed indium thin oxide sol–gel films |
Auteur: |
Noh, Miru Seo, Ilwan Park, Junghyun Chung, J.-S. Lee, Y.S. Kim, Hyuk Jin Chang, Young Jun Park, J.-H. Kang, Min Gyu Kang, Chong Yun |
Verschenen in: |
Current applied physics |
Paginering: |
Jaargang 16 (2016) nr. 2 pagina's 5 p. |
Jaar: |
2016 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|