|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Deep-level defect distribution as a function of oxygen partial pressure in sputtered ZnO thin-film transistors |
| Auteur: |
Park, Jinhee Rim, You Seung Li, Chao Kim, Hyung-Seok Goorsky, Mark Streit, Dwight |
| Verschenen in: |
Current applied physics |
| Paginering: | Jaargang 16 (2016) nr. 10 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |