|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 44 gevonden artikelen
| Titel: |
2D strain measurement in sub-10 nm SiGe layer with dark-field electron holography |
| Auteur: |
Hoang, Van Vuong Cho, Young Ji Yoo, Jung Ho Yang, Jun-Mo Choi, Sungha Jung, Wooduck Choi, Yong Ho Hong, Soon-Ku |
| Verschenen in: |
Current applied physics |
| Paginering: | Jaargang 15 (2015) nr. 11 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 44 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |