Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 23 van 44 gevonden artikelen
 
 
  Hot carrier degradation mechanism interpretation by lateral distribution of interface and bulk trap density
 
 
Titel: Hot carrier degradation mechanism interpretation by lateral distribution of interface and bulk trap density
Auteur: Chae, Heesoon
Shin, Somyeong
Choi, Jaehoon
Seo, Sunae
Verschenen in: Current applied physics
Paginering: Jaargang 15 (2015) nr. 11 pagina's 5 p.
Jaar: 2015
Inhoud:
Uitgever: Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 23 van 44 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland