|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical characterization studies of p-type Ge, Ge1−y Sn y , and Si0.09Ge0.882Sn0.028 grown on n-Si substrates |
| Auteur: |
Harris, Thomas R. Ryu, Mee-Yi Yeo, Yung Kee Beeler, Richard T. Kouvetakis, John |
| Verschenen in: |
Current applied physics |
| Paginering: | Jaargang 14 (2014) nr. S1 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |