|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Synchrotron X-ray topography of supercritical-thickness strained silicon-on-insulator wafers for crystalline quality evaluation and electrical characterization using back-gate transistors |
| Auteur: |
Shimura, T. Shimokawa, D. Matsumiya, T. Morimoto, N. Ogura, A. Iida, S. Hosoi, T. Watanabe, H. |
| Verschenen in: |
Current applied physics |
| Paginering: | Jaargang 12 (2012) nr. S3 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |