|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 39 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Use of negative capacitance to simulate the electrical characteristics in double-gate ferroelectric field-effect transistors |
| Auteur: |
Xiao, Y.G. Tang, M.H. Xiong, Y. Li, J.C. Cheng, C.P. Jiang, B. Cai, H.Q. Tang, Z.H. Lv, X.S. Gu, X.C. Zhou, Y.C. |
| Verschenen in: |
Current applied physics |
| Paginering: | Jaargang 12 (2012) nr. 6 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 39 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |