|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 65 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of ion energy impact on the refractive index of silicon nitride films by use of neural network model |
| Auteur: |
Kim, Daehyun Kim, Byungwhan |
| Verschenen in: |
Current applied physics |
| Paginering: | Jaargang 12 (2012) nr. 1 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 65 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |