|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 35 van 77 gevonden artikelen
| Titel: |
High mechanical and electrical reliability of bottom-gate microcrystalline silicon thin film transistors on polyimide substrate |
| Auteur: |
Huang, Jung-Jie Chen, Yung-Pei Lien, Shui-Yang Weng, Ko-Wei Chao, Ching-Hsun |
| Verschenen in: |
Current applied physics |
| Paginering: | Jaargang 11 (2011) nr. 1S pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 35 van 77 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |