|
Size dependence of TiN/HfO2/Ti MIM ReRAM resistance states: Model and experimental results |
|
|
|
Titel: |
Size dependence of TiN/HfO2/Ti MIM ReRAM resistance states: Model and experimental results |
Auteur: |
Chen, Frederick T. Lee, Heng-Yuan Chen, Yu-Sheng Chen, Pang-Shiu Gu, Peggy Chen, Chi-Wei Hsu, Yen-Ya Liu, Wen-Hsing Chen, Wei-Su Tsai, Ming-Jinn Lo, Shen-Chuan Lai, Ming-Wei |
Verschenen in: |
Current applied physics |
Paginering: |
Jaargang 10 (2010) nr. 1S pagina's nvt p. |
Jaar: |
2010 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|