|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 4 gevonden artikelen
| Titel: |
Coupled electronic and atomic effects on defect evolution in silicon carbide under ion irradiation |
| Auteur: |
Zhang, Yanwen Xue, Haizhou Zarkadoula, Eva Sachan, Ritesh Ostrouchov, Christopher Liu, Peng Wang, Xue-lin Zhang, Shuo Wang, Tie Shan Weber, William J. |
| Verschenen in: |
Current Opinion in Solid State & Materials Science |
| Paginering: | Jaargang 21 (2017) nr. 6 pagina's 285-298 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 4 gevonden artikelen
| volgende >> |