|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 4 gevonden artikelen
| Titel: |
Critical properties of Cu6Sn5 in electronic devices: Recent progress and a review |
| Auteur: |
Mu, D.K. McDonald, S.D. Read, J. Huang, H. Nogita, K. |
| Verschenen in: |
Current Opinion in Solid State & Materials Science |
| Paginering: | Jaargang 20 (2016) nr. 2 pagina's 22 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 4 gevonden artikelen
| volgende >> |