|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Corrigendum to “On the current role of atom probe tomography in materials characterization and materials science” [Current Opinion Solid State Mater. Sci. 17/5 (2014) 217–223] |
| Auteur: |
Marquis, Emmanuelle A. Bachhav, Mukesh Chen, Yimeng Dong, Yan Gordon, Lyle M. Joester, Derk McFarland, Adam |
| Verschenen in: |
Current Opinion in Solid State & Materials Science |
| Paginering: | Jaargang 19 (2015) nr. 2 pagina's 147 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |