|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Phase-sensitive specular neutron reflectometry for imaging the nanometer scale composition depth profile of thin-film materials |
| Auteur: |
Kirby, B.J. Kienzle, P.A. Maranville, B.B. Berk, N.F. Krycka, J. Heinrich, F. Majkrzak, C.F. |
| Verschenen in: |
Current opinion in colloids & interface science |
| Paginering: | Jaargang 17 (2012) nr. 1 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 7 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |